主办单位:中国电子科技集团公司电子第十三研究所
出版单位:河北省石家庄市
期刊级别北大核心; CA;INSPEC;JST;Pж(AJ);WJCI
影响因子:0.70
国际标准刊号ISSN:1003-353X
国内统一刊号:13-1109/TN
出版周期:月刊
创刊年份:1976
学科分类:信息科技
编辑团队:《半导体技术》编辑部
期刊宗旨和范围:《半导体技术》(ISSN 1003-353X、CN13-1109/TN、CODEN BAJIFJ)是国家新闻出版广电总局批准公开发行、中国电子科技集团公司主管、中国电子科技集团公司第十三研究所主办的科技期刊。 本刊创刊于1976年,重点介绍半导体新材料的研发、半导体器件(CMOS器件、有机半导体器件、化合物半导体器件、半导体光电器件、薄膜晶体管、存储器等)和技术、集成电路设计与应用、先进半导体制备和封装技术、可靠性(功率器件可靠性、ESD技术等)、检测技术与设备等领域国内外的研究进展和最新研究成果。栏目分为:趋势与展望,半导体材料与器件,半导体制备技术,集成电路设计与应用,封装、检测与设备。 本刊为中文核心期刊、中国科技核心期刊,被《中国学术期刊网络出版总库》、中文科技期刊数据库、万方数据知识服务平台、超星期刊域出版平台、美国《化学文摘》(CA)、美国《剑桥科学文摘》(CSA)、美国《乌利希期刊指南》(UPD)、英国INSPEC数据库、俄罗斯《文摘杂志》(AJ of VINITI)、日本科学技术振兴机构数据库(JST)等国内外数据库收录。 欢迎半导体领域的专家、学者和研究人员踊跃投稿。
栏目设置:半导体材料与器件 电网用5200V压接式逆导IGBT模块 朱利恒;王滨;蔡海;陈星;覃荣震;肖强; 2024年10期 v.49;No.434 873-878页 [查看摘要][在线阅读][下载 1207K] [下载次数:89 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:26 ] IGCT过应力关断下动态雪崩诱发的电压自箝位效应 董曼玲;姚德贵;宋伟;张嘉涛;肖超;鲁一苇;杨武华; 2024年10期 v.49;No.434 879-884页 [查看摘要][在线阅读][下载 1236K] [下载次数:46 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:9 ] ALD法制备Li掺杂NiO_x作为HTL提升PSC性能 罗启仁;刘昌;吴昊; 2024年10期 v.49;No.434 885-892+898页 [查看摘要][在线阅读][下载 1456K] [下载次数:90 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:6 ] 半导体制备技术 基于ICP的Ar等离子体干法刻蚀Ti/Ni/Ag薄膜 黄梦茹;卢林红;郭丰杰;马奎;杨发顺; 2024年10期 v.49;No.434 893-898页 [查看摘要][在线阅读][下载 1075K] [下载次数:222 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:21 ] 集成电路设计与应用 用于高精度模数转换器的CMOS可变增益放大器 李振国;苏萌;田迪;肖春;侯佳力;胡毅;沈红伟;王亚彬; 2024年10期 v.49;No.434 899-905页 [查看摘要][在线阅读][下载 1279K] [下载次数:154 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:17 ] 一种采用激光修调的高精度带隙基准电压源 韩前磊;王成皓;钟道鸿;杨伟伟; 2024年10期 v.49;No.434 906-911页 [查看摘要][在线阅读][下载 1202K] [下载次数:113 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:8 ] 封装、检测与设备 基于MLP-Bagging的PCB电热耦合建模方法 耿悦;周远国;任强;梁尚清;杨国卿; 2024年10期 v.49;No.434 912-919页 [查看摘要][在线阅读][下载 1285K] [下载次数:49 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:4 ] 基于连续双脉冲测试的GaN HEMT动态导通电阻变化及测量方法 陈耀峰; 2024年10期 v.49;No.434 920-925页 [查看摘要][在线阅读][下载 1252K] [下载次数:57 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:5 ] 三维量子芯片硅通孔热应力对阻止区的影响 谢雯婷;张立廷;陈小婷;卢向军; 2024年10期 v.49;No.434 926-933页 [查看摘要][在线阅读][下载 2709K] [下载次数:56 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:3 ] 高阶显微分析技术在CDM失效问题上的应用 晁拴社;林欣毅;何潇;梅娜;杨丹;王梦华;欧阳可青; 2024年10期 v.49;No.434 934-939页 [查看摘要][在线阅读][下载 1416K] [下载次数:23 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:3 ] 工业级芯片热管理与漏电流阈值设定技术 李博夫;段士华;韩顺枫;李大猛;杨宝斌;张娜;李德建; 2024年10期 v.49;No.434 940-945页 [查看摘要][在线阅读][下载 1325K] [下载次数:72 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:7 ] 高海拔环境下压接式半导体器件的外绝缘特性 任成林;鲁翔;闫旭阳;孙帮新;程周强;谢文杰; 2024年10期 v.49;No.434 946-952页 [查看摘要][在线阅读][下载 1050K] [下载次数:52 ] |[网刊下载次数:0 ] |[引用频次:0 ] |[阅读次数:4 ]
期刊简介:《半导体技术》(ISSN 1003-353X、CN13-1109/TN、CODEN BAJIFJ)是国家新闻出版广电总局批准公开发行、中国电子科技集团公司主管、中国电子科技集团公司第十三研究所主办的科技期刊。 本刊创刊于1976年,重点介绍半导体新材料的研发、半导体器件(CMOS器件、有机半导体器件、化合物半导体器件、半导体光电器件、薄膜晶体管、存储器等)和技术、集成电路设计与应用、先进半导体制备和封装技术、可靠性(功率器件可靠性、ESD技术等)、检测技术与设备等领域国内外的研究进展和最新研究成果。栏目分为:趋势与展望,半导体材料与器件,半导体制备技术,集成电路设计与应用,封装、检测与设备。 本刊为中文核心期刊、中国科技核心期刊,被《中国学术期刊网络出版总库》、中文科技期刊数据库、万方数据知识服务平台、超星期刊域出版平台、美国《化学文摘》(CA)、美国《剑桥科学文摘》(CSA)、美国《乌利希期刊指南》(UPD)、英国INSPEC数据库、俄罗斯《文摘杂志》(AJ of VINITI)、日本科学技术振兴机构数据库(JST)等国内外数据库收录。 欢迎半导体领域的专家、学者和研究人员踊跃投稿。
投稿指南:《半导体技术》投稿指南 《半导体技术》是由中国电子科技集团公司主管、中国电子科技集团公司第十三研究所主办的科技期刊。本刊是中文核心期刊、中国科技核心期刊,被《中国学术期刊网络出版总库》、中文科技期刊数据库、万方数据知识服务平台、超星期刊域出版平台、美国《化学文摘》(CA)、美国《剑桥科学文摘》(CSA)、美国《乌利希期刊指南》 (UPD)、英国INSPEC数据库、俄罗斯《文摘杂志》(AJ of VINITI)、日本科学技术振兴机构数据库(JST) 等国内外数据库收录。 1. 征稿范围 半导体新材料的研发、半导体器件(CMOS器件、有机半导体器件、化合物半导体器件、半导体光电器件、薄膜晶体管、存储器等)和技术、集成电路设计与应用、先进半导体制造技术和封装技术、可靠性(功率器件可靠性、ESD技术等)、检测技术与设备等领域国内外的研究进展和最新研究成果。主要栏目:趋势与展望,半导体材料与器件,半导体制备技术,集成电路设计与应用,封装、检测与设备。 为使您的文章符合标准化出版要求,并得到更加及时的处理,请您务必阅读并了解本刊对于投稿的一些要求。 2. 投稿方法 ①系统投稿:请登录《半导体技术》网站(http://www.bdtj.cbpt.cnki.net)“作者投稿” 一栏进行投稿(推荐); ②邮箱投稿:bdtj1339@vip.163.com。 如有问题请联系编辑部邮箱bdtj1339@vip.163.com,或致电编辑部电话0311-87091339,进行咨询。 3. 投稿要求 ♦ 作者在投稿前,须准备好全部作者签字、单位盖章的论文审查证明,在投稿系统中上传电子扫描版。投稿作者必须遵守学术规范和准则,勿一稿多投,杜绝泄密、抄袭、剽窃等行为。 ♦ 来稿件请用WORD 文档排版 ♦ 稿件应论点明确、数据可靠、条理清晰、文字精炼,论文撰写符合国家出版标准和规范。 ♦ 英文稿件要求语法规范、用词准确、表述无误。 ♦ 来稿请附第一作者及通信作者的联系方式,包括通信地址及邮编、固定或移动电话、E-mail,以便及时与作者联系。 ♦ 在稿件的最后一页需附上作者简介、第一作者近期1寸免冠证件照片(JPG格式)。若第一作者为在校学生,还需提供导师的个人简介(作者简介总数不超过3个),并确认导师是否同意投稿,且文中所有内容(例如:数据)已经核实准确无误。 4. 书写格式 ♦ 题目要求不超过20字。 ♦ 署名作者及所在单位:提供中英文的单位全称、所在城市和邮政编码,作者人数不超过7人。 ♦ 中英文摘要:摘要宜用第三人称写明论文的目的、方法、结果和结论,中文250字左右。 ♦ 关键词:中英文5~8个。 ♦ 中图分类号:采用中国图书分类法(第五版进行分类)。 ♦ 基金项目:在首页页脚标注项目名称和批准号。 ♦ 缩略词和物理量:正文部分英文缩略词第一次出现时须写出中英文全称;物理量符号须分清大小写、正斜体、上下角,第一次出现该符号时需给出其含义。 ♦ 图、表和公式:按在论文中出现的先后顺序编号并排在正文相应位置,在图下面标注图题、图注。有分图时分图用(a)(b)(c)等标识并给出中文分图题,插图最好用矢量图格式。表格应简明,宜用三线表,图和表里的文字用中文。图表以不小于50 mm×70 mm 为宜,照片须清晰,分辨率不低于600 dpi。图、表中出现的物理量名称和符号须与正文一致,不要出现正文中没有提及或与正文内容无关的文字或符号。公式在文章中以阿拉伯数字连续编号,需用Mathtype公式编辑器编辑。 ♦ 参考文献:按在正文中出现的顺序编号,用方括号标于引文处右上角,并与文末参考文献序码对应一致。请勿引用尚未公开发表的资料,应符合GB/T 7714—2015文献著录规则,著录项目齐全。 ⇒ 期刊格式:作者(列前三名,姓前名后,英文全部大写),等. 文章题目(英文首字母大写)[J]. 刊名(每个英文单词首字母大写),发表年份,卷(期):起止页码. ⇒ 书籍格式:作者(列前三名,姓前名后,英文全部大写),等. 书名(英文首字母大写)[M]. 出版地:出版社,出版年份:参考起止页码. ⇒ 会议论文集格式:作者(列前三名,姓前名后,英文全部大写),等. 文章题目(英文首字母大写)[C] // 会议名称. 会议召开的城市,国别,年份:起止页码. ♦ 作者简介(含导师简介):姓名(出生年—),性别,籍贯(出生地,如:河北石家庄人),学历,职称,从事专业或研究方向。 ♦ 论文模版请参看网站首页的下载中心 5. 审稿流程 收到稿件后,编辑部将通过“科技期刊学术不端文献检测系统”、网络搜索文献对比和编辑部综合审查等对稿件进行初审(5~7个工作日),无论初审通过与否,编辑部都会尽快告知。初审通过后的稿件将送至相关领域专家进行“双盲审稿”,编辑部于40天左右将评审意见发给作者。作者应将修改后的文稿及时(3周内)返回编辑部,审阅通过后将进行编辑加工和印刷出版。 6. 注意事项 自作者投稿之日起,视所有署名作者同意将文章的版权转让给《半导体技术》编辑部。本刊已许可中国知网、美国《化学文摘》(CA)及英国INSPEC等数据库以数字化方式复制、汇编、信息网络传播本刊全文。所有著作权转让费用均包含在论文刊登后《半导体技术》期刊支付的稿酬中,不再另行支付费用。作者向本刊提交文章发表的行为即视为同意我编辑部上述声明。如有异议,请在来稿时说明,本刊将进行适当处理。 编辑部联系方式: 通信地址: 河北石家庄市合作路113号《半导体技术》编辑部 邮政编码:050051 电话: 0311-87091339 E-mail:bdtj1339@vip.163.com
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